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廣電計量裝備定壽延壽,元器件失效分析采用特定專業(yè)的檢測設(shè)備，采用加速試驗、?品分析、歷史數(shù)據(jù)收集等方式方法，輔以產(chǎn)品失效分析，即時發(fā)現(xiàn)貯存失效機理，并基于科學的概率數(shù)理統(tǒng)計理論，計算出產(chǎn)品的可靠性特征參數(shù)和壽命特征值分布曲線，確定裝備貯存壽命。

超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉與測試是確定或評估?規(guī)模集成電路的功能和電性能的過程，是驗證設(shè)計、監(jiān)控?產(chǎn)、保證質(zhì)量、分析失效以及指導應?的重要?段。

廣電計量集成電路工程化量產(chǎn)測試,失效機理分析，擁有經(jīng)驗豐富的IC測試技術(shù)開發(fā)團隊，可提供各類芯?的測試方案開發(fā),測試硬件開發(fā),測試程序開發(fā)與調(diào)試,小批量測試,應?驗證.從?程化到量產(chǎn)的全流程專業(yè)定制化的?站式服務.