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半導(dǎo)體元器件失效分析檢測(cè)采用光學(xué)傳感器、紅外線探測(cè)器或顯微鏡等技術(shù)，通過(guò)觀察和分析半導(dǎo)體元器件表面的光學(xué)特征，來(lái)識(shí)別缺陷、污染或結(jié)構(gòu)問(wèn)題。

光電熱機(jī)械全參數(shù)測(cè)試 光電器件：廣電計(jì)量光、電、熱、機(jī)械全參數(shù)測(cè)試服務(wù)可與企業(yè)合作，深入產(chǎn)品研發(fā)階段，有效為產(chǎn)品研發(fā)和定型提供測(cè)試保障。

傳感器液體冷熱沖擊試驗(yàn)：液態(tài)冷熱沖擊試驗(yàn)主要用于兩個(gè)裝置內(nèi)部的液體冷熱交替循環(huán)試驗(yàn)。冷熱沖擊試驗(yàn)是評(píng)價(jià)散熱器抗溫度交變循環(huán)能力的強(qiáng)化試驗(yàn)，為冷卻器的設(shè)計(jì)提供試驗(yàn)數(shù)據(jù)，也是驗(yàn)證冷熱交變溫度下非金屬-金屬連接件的可靠性，對(duì)保證換熱器質(zhì)量和提高其可靠性具有重要作用。廣電計(jì)量可提供傳感器液態(tài)沖擊試驗(yàn)服務(wù)。

光電子器件LED失效分析：隨著LED應(yīng)用的飛速發(fā)展，其失效問(wèn)題也隨之表現(xiàn)的尤為突出，特別是LED隨機(jī)性不點(diǎn)燈或性不點(diǎn)燈，以及燒燈等，是困擾產(chǎn)品可靠性壽命的關(guān)鍵問(wèn)題。廣電計(jì)量通過(guò)對(duì)LED內(nèi)部的微觀分析，確認(rèn)其結(jié)構(gòu)上的失效特征，可以改進(jìn)設(shè)計(jì)、制造、工藝及應(yīng)用上的潛在或已存在的失效風(fēng)險(xiǎn)，提高產(chǎn)品的可靠性及壽命。

光電器件 電磁繼電器電性能測(cè)試：繼電器是一種自動(dòng)控制開(kāi)關(guān)，當(dāng)其輸入端的物理量達(dá)到某一量值時(shí)，其輸出端的狀態(tài)發(fā)生階躍式變化。繼電器廣泛應(yīng)用于遙控、遙測(cè)、通訊、自動(dòng)控制、機(jī)電一體化及電力電子設(shè)備中，是最重要的控制元件之一。廣電計(jì)量提供電磁繼電器電性能測(cè)試服務(wù)，為實(shí)際使用發(fā)生失效的繼電器進(jìn)行宏觀及微觀的分析，確定其失效模式及其失效的機(jī)理。

PCB PCBA金相切片試驗(yàn) 光電器件測(cè)試：金相切片是電子行業(yè)中常用的產(chǎn)品內(nèi)部質(zhì)量評(píng)價(jià)方法。廣電計(jì)量擁有完整的切片分析測(cè)試設(shè)備，經(jīng)驗(yàn)豐富的切片分析人才，能夠高效準(zhǔn)確的提供切片服務(wù)。

AD/DA轉(zhuǎn)換器電性能測(cè)試 光電器件:AD/DA轉(zhuǎn)換器是將數(shù)字量轉(zhuǎn)換為模擬量的電路，主要用于數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)、自動(dòng)測(cè)試設(shè)備、醫(yī)療信息處理、電視信號(hào)的數(shù)字化、圖像信號(hào)的處理和識(shí)別、數(shù)字通信和語(yǔ)音信息處理等。對(duì)AD/DA轉(zhuǎn)換器進(jìn)行有效的檢測(cè)，是提高企業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量的保證。越復(fù)雜的生產(chǎn)場(chǎng)景對(duì)AD/DA轉(zhuǎn)換器芯片的可靠性越高，電性能測(cè)試是檢驗(yàn)AD/D啊A芯片功能性能可靠性的主要手段。

光電器件三端穩(wěn)壓器電氣性能測(cè)試：三端穩(wěn)壓器主要包括兩種，一種輸出固定電壓，稱為固定輸出三端穩(wěn)壓器；另一種輸出可調(diào)電壓，稱為可調(diào)輸出三端穩(wěn)壓器。兩種穩(wěn)壓器基本原理相同，均采用串聯(lián)型穩(wěn)壓電路。在線性集成穩(wěn)壓器中，由于三端穩(wěn)壓器只有三個(gè)引出端子，具有外接元件少、使用方便、性能穩(wěn)定、價(jià)格低廉等優(yōu)點(diǎn)，因而得到廣泛應(yīng)用。