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簡要描述:電子元器件失效分析經(jīng)常用到的檢查分析方法簡單可以歸類為無損分析、有損分析。有損分析就是對器件進行各種微觀解剖分析,其首要要求就是在避免人為損傷的前提下,展現(xiàn)內(nèi)部缺陷形貌。離子研磨(CP)測試是切片制樣技術(shù)常用到的先進輔助技術(shù)。廣電計量提供離子研磨測試,材料CP檢測服務(wù)。
產(chǎn)品分類
Product Category相關(guān)文章
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品牌 | 廣電計量 | 服務(wù)范圍 | 全國 |
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服務(wù)資質(zhì) | CMA/CNAS | 服務(wù)周期 | 常規(guī)5-7個工作日 |
服務(wù)費用 | 視具體項目而定 |
服務(wù)內(nèi)容
廣電計量離子研磨測試,材料CP檢測服務(wù)是在真空條件下,離子槍中低壓惰性氣體(氬)離子化,出射的陽離子又經(jīng)加速,獲得具有一定速度的離子束投射到樣品表面,由于離子帶正電荷,其質(zhì)量比電子大數(shù)千、數(shù)萬倍,所以離子束比電子束具有更大的撞擊動能,靠微觀的機械撞擊能量加工樣品。廣電計量擁有優(yōu)質(zhì)檢測設(shè)備,提供一站式離子研磨(CP)測試服務(wù)。
服務(wù)范圍
廣電計量離子研磨測試,材料CP檢測服務(wù)主要用于半導(dǎo)體材料、電池電極材料、光伏材料、不同硬度合金、巖石礦物質(zhì)、高分子聚合物、軟硬復(fù)合材料、多元素組成材料等的截面制樣、界面表征。
檢測項目
離子研磨能實現(xiàn)無應(yīng)力的橫截面和幾乎所有材料刨面,揭示了樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)同時限度地減少變形或損壞,即的截面制樣、界面表征。
相關(guān)資質(zhì)
CNAS
測試周期
常規(guī)5-7個工作日,可加急
服務(wù)背景
離子研磨通過氬離子束物理轟擊樣品,達到切割或表面拋光的作用。為什么要進行表面拋光?那是因為在對精細(xì)電子元器件切片的時候,往往會因為切片造成了金屬延展、顆粒物填充等情況,對后續(xù)的檢查帶來不利影響。而這些就是前文提到的人為損害。因此,我們對樣片進行表面拋光,可以在減免人為損傷的前提下,展現(xiàn)內(nèi)部缺陷形貌。
我們的優(yōu)勢
1、配合工信部牽頭“面向集成電路、芯片產(chǎn)業(yè)的公共服務(wù)平臺建設(shè)項目"“面向制造業(yè)的傳感器等關(guān)鍵元器件創(chuàng)新成果產(chǎn)業(yè)化公共服務(wù)平臺"等多個項目。
2、在集成電路及SiC領(lǐng)域是技術(shù)能力全面的第三方檢測機構(gòu)之一,已完成MCU、AI芯片、安全芯片等上百個型號的芯片驗證。
3、在車規(guī)領(lǐng)域擁有AEC-Q及AQG324服務(wù)能力,獲得了近50家車廠的認(rèn)可,出具近300份AEC-Q及AQG324報告,助力100多款車規(guī)元器件量產(chǎn)。
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